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主題: ST將HDTV用90nm LSI的檢測時間減半 採用Synopsys的 覆蓋分析功能
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nikon
文章:15
來自:台北市
美國Synopsys日前宣佈,意法半導體利用該公司的檢測用EDA工具“VCS”將HDTV用LSI的檢測時間減少了一半(英文發佈資料,日文發佈資料)。該晶片的型號為“STD2000”,採用90nm工藝生產。檢測時間之所以能夠減少一半,主要得益於採用了各種覆蓋分析工具。
VCS最初是僅作為編譯型Verilog-HDL邏輯模擬器使用,此後又增加了支援基準生成、覆蓋分析及斷言等用於檢測的週邊功能。由於增加了這一功能,所以Synopsys未將VCS稱為邏輯模擬器,而是將其定位於“RTL檢測解決方案”。
在發佈資料中,意法半導體的Sebastien Francois(Verification Manager)發表了評論。Sebastien表示,對VCS所具有的各種覆蓋分析功能進行評測後表明,該工具適用於STD2000的檢測。據Synopsys稱,VCS可以進行功能覆蓋、斷言覆蓋及代碼覆蓋(有限狀態機/條件/通過/觸發)等操作。另外,還具備以下功能:為使覆蓋儘快到達目標的測試(模擬)集順序確定功能、統計多個測試(模擬)集的覆蓋分析結果的功能,以及覆蓋分析的執行和停止設定功能等。
發表日期:2005/7/12 下午 12:55:00
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